黃仁勛稱Blackwell芯片曾存在設(shè)計缺陷：靠臺積電力挽狂瀾！
體育資訊10月23日報道宣稱 英偉達 CEO 黃仁勛于當(dāng)?shù)貢r間周三在訪問丹麥時表示：該公司最新的 Blackwell 芯片曾存在設(shè)計缺陷，“Blackwell 芯片可以正常使用，但良率很低?！彼€
2024-10-23
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